Loading...

CyberScan TN 100

zasada pomiarupomiar nefelometryczny zgodny

z PN/EN 7027:1999

źródło światłaświatło podczerwone IR-LED – 850 nm
producentEUTECH

 
okresowy przeglad techniczy


dane techniczne

zasada pomiarupomiar nefelometryczny zg. z PN/EN 7027
źródło światłaświatło podczerwone IR-LED – 850 nm
zakres pomiarowy0…1000 NTU
rozdzielczość0,01 NTU w zakresie 0,00…19,990,1 NTU w zakresie 20,0…99,91 NTU w zakresie 100…1000
producentEUTECH

Do pobrania

pdf-flat Karty katalogowe

pdf-flat Katalog 2016 PL